產(chǎn)品目錄 / Products
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簡要描述:LA-30測厚儀,利用微處理器控制,采用超聲波量原理,能夠對透射超聲波的各種材料的厚度、聲速進行測量。測量原理:探頭發(fā)出的超聲波通過耦合劑到達被測物體,一部分被物體前表面反射,其余部分穿過物體,從其背表面反射回來,探頭將背面回波接收下來,通過對回波的計算,就可得到被測物體的厚度值。
國產(chǎn)LA30超聲波測厚儀詳細說明: | ||||||||||||||||||||||||||||||
LA-30測厚儀,利用微處理器控制,采用超聲波量原理,能夠對透射超聲波的各種材料的厚度、聲速進行測量。 測量原理:探頭發(fā)出的超聲波通過耦合劑到達被測物體,一部分被物體前表面反射,其余部分穿過物體,從其背表面反射回來,探頭將背面回波接收下來,通過對回波的計算,就可得到被測物體的厚度值。
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國產(chǎn)LA30超聲波測厚儀技術參數(shù):
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